- Part Status :
- Operating Temperature :
- Package / Case :
- Supplier Device Package :
- Прикладные фильтры :
11 продукты
| ОБРАЗ | ЧАСТЬ №. | ЦЕНА | КОЛИЧЕСТВО | АКЦИИ | ПРОИЗВОДСТВО | ОПИСАНИЕ | Series | Part Status | Packaging | Operating Temperature | Mounting Type | Package / Case | Supplier Device Package | Supply Voltage | Number of Bits | Logic Type | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
879
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC DECODER MEM DUAL 2-4 20-DIP | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 75°C | Through Hole | 20-DIP (0.300", 7.62mm) | 20-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | - | Memory Decoder | |||
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,666
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,188
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
806
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Latches | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
846
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Bus Transceivers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
3,810
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Bus Transceivers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
2,817
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
2,739
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
3,609
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Inverting Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
2,795
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Inverting Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
3,663
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | 8-Bit to 9-Bit Parity Bus Transceiver |
Страница 1 / 1
