2 продукты
| ОБРАЗ | ЧАСТЬ №. | ЦЕНА | КОЛИЧЕСТВО | АКЦИИ | ПРОИЗВОДСТВО | ОПИСАНИЕ | Series | Part Status | Packaging | Operating Temperature | Mounting Type | Package / Case | Supplier Device Package | Supply Voltage | Number of Bits | Logic Type | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,666
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,188
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Страница 1 / 1
