- Производство :
- Series :
- Part Status :
- Mounting Type :
- Supplier Device Package :
- Supply Voltage :
- Logic Type :
-
- 8-Bit to 9-Bit Parity Bus Transceiver (2)
- Buffer/Driver with Parity (2)
- Scan Test Device with Buffers (4)
- Scan Test Device with Bus Transceivers (3)
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops (3)
- Scan Test Device with D-Type Latches (2)
- Scan Test Device with Inverting Buffers (3)
- Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array (2)
- Прикладные фильтры :
22 продукты
| ОБРАЗ | ЧАСТЬ №. | ЦЕНА | КОЛИЧЕСТВО | АКЦИИ | ПРОИЗВОДСТВО | ОПИСАНИЕ | Series | Part Status | Packaging | Operating Temperature | Mounting Type | Package / Case | Supplier Device Package | Supply Voltage | Number of Bits | Logic Type | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
2,160
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
NXP USA Inc. | IC BUFFER/LDRIVER OCTAL 24-DIP | 74F | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-DIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Buffer/Driver with Parity | ||
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,319
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
ON Semiconductor | GPIB COMPATIBLE OCTAL TRANSCEIV | 74F | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 16-DIP (0.300", 7.62mm) | 16-DIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | - | ||
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,582
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
NXP USA Inc. | IC BUFFER/LDRIVER OCTAL 24SOIC | 74F | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SO | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Buffer/Driver with Parity | ||
|
|
|
3,029
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Buffers | |||
|
|
|
972
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Bus Transceivers | |||
|
|
|
2,187
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Latches | |||
|
|
|
2,497
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24SOIC | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | 8-Bit to 9-Bit Parity Bus Transceiver | |||
|
|
1,391
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCHOTTKY BARRIER DIODE 16SOIC | 74F | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width) | 16-SOIC | - | 8 | Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array | |||
|
|
|
2,588
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC | 74F | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width) | 16-SOIC | - | 8 | Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array | |||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,666
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
1,188
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
806
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Latches | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
846
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Bus Transceivers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
3,810
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Bus Transceivers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
2,817
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
2,739
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
3,609
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Inverting Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
2,795
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Inverting Buffers | ||
|
|
|
ПОЛУЧИТЬ ЦИТАТЫ |
3,663
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | 8-Bit to 9-Bit Parity Bus Transceiver | ||
|
|
|
889
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | |||
|
|
|
2,326
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Inverting Buffers | |||
|
|
|
2,301
Сегодня корабль + бесплатная ночная доставка
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 74BCT | Active | Tube | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Buffers |
Страница 1 / 1
